Mirando dentro de un microchip con una precisión de 4 nanómetros
En una colaboración entre el Instituto Paul Scherrer (PSI), el EPFL Lausanne, el ETH Zurich y la Universidad del Sur de California, los investigadores han utilizado rayos X para observar el interior de un microchip con una precisión sin precedentes. La resolución de la imagen, de 4 nanómetros, marca un nuevo récord mundial. Estas imágenes tridimensionales de alta resolución permitirán avances tanto en la tecnología de la información como en las ciencias de la vida.