Diagrama que ilustra la técnica ptychográfica para imágenes de rayos X con resolución nanométrica. En la sección (a), los rayos X se dirigen hacia una muestra a través de una placa zonal. Las inestabilidades del haz se representan con líneas onduladas. La muestra se escanea mientras un detector captura imágenes en modo ráfaga, produciendo múltiples imágenes para mejorar la resolución. En la sección (b), se muestran las posiciones supuestas y las posiciones reales del haz, indicando las discrepancias causadas por las vibraciones. En la sección (c), se comparan las imágenes de larga exposición (difusa) y de corta exposición (nítida), destacando la mejora en la nitidez con tiempos de exposición reducidos.

Mirando dentro de un microchip con una precisión de 4 nanómetros

Publicada enCiencia, Electrónica, Tecnología
En una colaboración entre el Instituto Paul Scherrer (PSI), el EPFL Lausanne, el ETH Zurich y la Universidad del Sur de California, los investigadores han utilizado rayos X para observar el interior de un microchip con una precisión sin precedentes. La resolución de la imagen, de 4 nanómetros, marca un nuevo récord mundial. Estas imágenes tridimensionales de alta resolución permitirán avances tanto en la tecnología de la información como en las ciencias de la vida.